 |
 |
 |
|
 |
|
 |
|
 |
|
 |
Мікроскопи відлікові застосовуються для вимірювання відбитка (лунки), яка утворюється на поверхні металів при визначенні твердості за методом Брінелля, а також для контролю великогабаритних деталей.
| Тип | Збільшення, крат | Ціна, UAH * | |||||
| Фокусна відстань, мм | Ціна поділки, мм | Підсвічування | Загальне | Об'єктив | Окуляр | ||
| МОО-100 | 30 | 0,01 | + | 100 | 10 | 10 | 2268 |
| МОМ-20 | 30 | 0,01 | - | 20 | 2 | 10 | 3402 |
| МОМ-40 | 30 | 0,01 | - | 40х | 4х | 10х | 3564 |
| МТИ-40-60 | - | 0,02 | опція | 40-60х | 4-6х | 10 | |
| МОО-50 | 30 | 0,01 | + | 50х | 5х | 10 | 2041.2 |
*Ціни вказані без урахування ПДВ 20%
документ PDF скачати (13 Мб)